イベント

SPAR 2017J 第13回 3次元計測フォーラムへの出展を行います。

開催日：2017年6月14日（水）、15日（木）
場所：川崎市産業振興会館
TIアサヒブース番号:4F展示場 No.12
主催：（合）スパーポイントリサーチ
共催：（一社）日本写真測量学会
詳しくは、サイトをご覧ください。

http://www.sparj.com

弊社からは以下の製品を出展いたします。

■3Dレーザースキャナ S-3180V
S-3180Vは、1秒間最大1,016,000点のスキャンレートで高速・高精度のデータ取得に最適な位相差方式3Dスキャナをご紹介いたします。

■UAV・レーザ測量システム
2Dレーザスキャナと3640万画素の高解像度カメラを備え、対地高度250mまでのレーザ計測が可能なシステムをご紹介いたします。

また、テクニカルセッション（TS07）においては、「空洞監視システム（CMS）」（予定）について、ご説明をさせて頂きます。

日時：6月14日（水）午後16:40～17:05
場所：9F 第3研修室

ご多忙のこととは存じますが、この機会にぜひ弊社ブースへお立ち寄り頂き、当社の高性能スキャニング・システムに触れていただければと思います。みなさまのご来場を心よりお待ち申し上げております。